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4英寸碳化硅(SiC)晶圆高精度抛光展示

下图展示了我司设备对 4英寸碳化硅(SiC)晶圆在抛光前后的对比效果。经过精密磨抛工艺处理后,晶圆表面粗糙度 RA < 0.5nm,厚度差 TTV < 4μm,表面实现镜面级平整度,满足先进半导体工艺对超高精度的严格要求。


4英寸碳化硅(SiC)晶圆-抛光前


4英寸碳化硅(SiC)晶圆-抛光后


我们的高精密化学机械磨抛机不仅适用于碳化硅(SiC),还广泛覆盖 硅片(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)、蓝宝石(sapphire)、玻璃(glass) 等多种硬脆材料。凭借卓越的平面度控制与纳米级表面精度,设备能够广泛应用于 半导体制造、功率器件、光电子、光学元件 等领域。


选择我们的半导体晶圆磨抛设备,即意味着选择了:

纳米级精度(RA < 0.1nm)

优异的厚度均匀性(TTV < 1μm)

多材料兼容性(SiC、Si、GaAs、GaN、sapphire 等)

稳定可靠的加工效果

通过不断优化工艺和技术,我们致力于为全球客户提供高效、稳定的晶圆表面平坦化工艺,助力产业实现更高良率和更优性能。


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