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半导体晶圆研磨机工艺要点
2025-12-17


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        半导体晶圆研磨是决定器件性能的关键工序,其工艺科学性直接影响良率与产能。面对碳化硅、蓝宝石等硬脆材料的加工难题,以及14nm制程对精度的严苛要求,北京艾姆希半导体科技有限公司(MCF)的晶圆研磨机,以“阶段化管控、材料化适配、智能化保障”的工艺体系,形成一套成熟的加工解决方案,核心要点已在近百家企业的应用中得到验证。


        阶梯式磨抛工艺是品质把控的基础。针对碳化硅晶圆,粗磨阶段采用1.5μm团聚金刚石研磨液搭配铸铁盘,以0.8-1.2μm/min的稳定速率快速去除切割损伤层,同时气浮主轴系统(径向跳动≤60nm)确保研磨均匀性;精磨阶段切换聚氨酯发泡垫与纳米级磨料,将表面粗糙度从Ra≈50nm降至2-3nm;最终通过化学机械抛光(CMP)技术,利用氧化与研磨协同作用实现原子级平整,使表面粗糙度达Ra≤0.5nm,损伤层压缩至9μm。


        材料特性适配是工艺核心要点。针对莫氏硬度9.5的碳化硅,工艺重点控制研磨压力与磨料粒径,避免应力集中引发微裂纹,崩边率稳定在0.5%以下;蓝宝石衬底加工则融合20-40kHz超声振动技术,通过微力切削减少亚表面损伤,配合pH值精准调控的研磨液,保障95%以上的透光率;硅基晶圆加工中,通过分区压力补偿技术解决边缘过度研磨问题,8英寸晶圆总厚度偏差(TTV)控制在3μm以内。


        高效集成工艺提升生产价值。设备采用磨抛一体化设计,将蓝宝石衬底传统多道工序整合为一,15分钟内完成从粗磨到精抛的全流程,较传统工艺效率提升60%。针对多品种生产,内置的300余种材料工艺数据库覆盖硅、氮化硅等全品类参数,换产时通过触摸屏快速调用方案,响应时间缩短60%,某企业应用后多批次订单交付效率显著提升。


        实时监测与洁净管控保障稳定性。在线光学检测系统10秒内完成厚度与表面缺陷监测,数据误差控制在0.1nm量级,确保8英寸硅片厚度误差≤±1μm;ISO 1级洁净腔体配合亚纳米级过滤系统,将颗粒污染控制在0.1个/cm²以下。研磨液循环系统实现90%回收率,既减少磨料浪费,又避免杂质引发的加工缺陷,使硬脆材料加工良率从78%提升至99%。


        艾姆希研磨机的工艺要点,本质是“精度、效率、成本”的平衡艺术,其阶梯式、适配性、智能化的工艺体系,既破解了硬脆材料加工难题,又满足规模化生产需求。从碳化硅功率器件到蓝宝石光学元件,这些经过实践检验的工艺要点,正成为半导体研磨领域的实用参考标准,为企业提供可靠的加工支撑。

 


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